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掃描型可見(jiàn)分光光度計的基線(xiàn)平直度調整

更新時(shí)間:2024-01-17      點(diǎn)擊次數:2021
掃描型紫外可見(jiàn)分光光度計可通過(guò)建立標準曲線(xiàn),顯示曲線(xiàn)圖譜和方程式,利用朗伯比爾定律輸入數據測試,可以自動(dòng)調整波長(cháng),自動(dòng)波長(cháng)校準,自動(dòng)數據存儲,采用64位點(diǎn)陣液晶顯示器,可直接顯示標準曲線(xiàn)和測試數據,主機可存儲測試數據,并可選配打印機打印。

雙光束掃描型可見(jiàn)分光光度計是實(shí)驗室常規分析設備,它利用光譜分析方法對樣品進(jìn)行定性、定量分析,在有機化學(xué)、無(wú)機化學(xué)、生物化學(xué)、生命科學(xué)、藥品分析、食品檢驗、醫藥衛生、環(huán)保、地質(zhì)、冶金、石油、機械、商檢和農業(yè)等各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應用。

掃描型紫外可見(jiàn)分光光度計

 


掃描型分光光度計通過(guò)PC掃描軟件可直接聯(lián)機操作,進(jìn)行光度測量,定量分析(含標準曲線(xiàn)功能)、波長(cháng)掃描、多波長(cháng)測試、DNA/蛋白質(zhì)和核酸測試等。

掃描型分光光度計的基線(xiàn)平直度調整說(shuō)明:

基線(xiàn)平直度是指掃描透射比為100和0時(shí)基線(xiàn)傾斜或彎曲的程度。如果基線(xiàn)的平直性差,就會(huì )使樣品的吸收光譜中各吸收峰之間的比值發(fā)生變化,給定性分析造成錯誤。導致基線(xiàn)不平直的主要原因是儀器的光學(xué)系統失調,兩光束不平衡。如儀器受震動(dòng),光源位置變動(dòng)等都會(huì )引起光學(xué)系統故障(基線(xiàn)平直度要以吸光度表示)。有些設備對基線(xiàn)平直非常敏感,容易超出規程標準,因此在進(jìn)行此項測量時(shí)要使機器充分預熱,光譜帶寬設為2 nm,并且在儀器遮光罩關(guān)閉后穩定2 min后再進(jìn)行波長(cháng)掃描。
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